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您知道安東帕如何表征分散型樣品及溶液中的納米顆粒及微顆粒嗎?
時間:2019/1/18    來源:安東帕    點擊次數:813

Litesizer500顆粒分析儀中的參考頻率獲得了專利。

它是基于什么原理呢?

我們都知道日常生活中常見的多普勒效應:一輛鳴著笛駛近的救護車所發出的聲音聽上去要比它駛離的時候頻率要高。

多普勒效應與安東帕Litesizer 500有什么共性呢?

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共同之處多的超出你我的想象。要知道不僅僅是聲學中存在多普勒效應,光波中也存在多普勒效應,當然激光束中也存在。安東帕發明Litesizer 500,目的是為了測量分散體系中納米顆粒或微米顆粒的粒徑。“體系中至少含有兩種物質,互不相容且不會發生化學合成等反應,例如液體和固體”。專利開發者Christian Moitzi說:牛奶也是一種分散體系,更確切的說這是一種分散乳劑,是脂肪滴在水中的混合物,還有化妝品行業中的防曬霜,食品行業中的蛋黃醬都是乳劑的常見例子。對于這些體系,Zeta電位成了衡量其穩定性的關鍵指標。這就意味著,在理想情況下,這些體系內的顆粒應該均勻分布,而不應該發生聚集,例如。牛奶就不應該結塊。所以,Zeta電位知識在質量控制和工藝優化過程中就顯得很重要。


間接法測量Zeta電位

溶液中的顆粒由于其表面電荷而具有zeta電位。然而,zeta電勢不能直接測得只能間接確定。Litesizer500測量Zeta電位的原理是基于電泳光散射。通過給樣品池中兩個電極施加額外電場,待測溶液被填入其中,顆粒由于帶電荷而移動。一束射向樣品池的激光束被顆粒散射。由于散射光的頻率隨顆粒的方向和速度而變化,因此可以確定顆粒在電場中的運動速度。這就是光學多普勒效應發揮作用的地方。Zeta電位可以通過間接計算得到:散射光和顆粒速度。


重要參考

準確測量Zeta電位的關鍵在于對激光束的基準測量,有比較才能判斷音調“高”還是“低”,這與測量光學多普勒效應類似。相位分析光散射是測量光散射的一種方法,通常參考頻率也需要計算進去。測量的風險在于,一旦儀器出現老化等問題,測量誤差就會增加。專利先驅Christian MoitziHarald Noack的方法為連續不斷的測量參考光束頻率,他們的專利名稱為“cmPALS,”cm”的意思即為連續測量。


不斷前進

我們所能夠提供給客戶的價值在于提供更穩定的測量結果和更短的測量時間。最短測量時間大概為10,當然測量時間在30秒到2分鐘也都是正常的。這使得Litesizer 500明顯快于競爭對手。我們機器的光學系統非常穩定,而且現在完全可以調節,只有安裝和調試是在客戶現場進行。

   
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